FOTRIC 助力芯片微观检测

  • 50μm &100μm ,FOTRIC 助力芯片微观检测!

    50μm &100μm ,FOTRIC 助力芯片微观检测!

    新闻媒体, 飞础科 2022年8月10日

    芯片研发非常关注芯片的温度变化,在芯片的散热分析、元器件温度等检测中,红外热像仪都能轻松搞定。但针对某些测温环节,需要获取更微观的温度数据。 近期推出的FOTRIC  246M 微观检测热像仪测试平台,专为微观检测而生,精准获取芯片的微观数据: ① 精选全球尖端硬件 ② 研发专用测试台 ③ 配备50μm 和 100μm 可选镜头 ④ 支持线温分布图…

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