芯片微观检测
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红外热像仪之50μm ＆100μm ，FOTRIC 助力芯片微观检测！
芯片研发非常关注芯片的温度变化，在芯片的散热分析、元器件温度等检测中，红外热像仪都能轻松搞定。但针对某些测温环节，需要获取更微观的温度数据。 近期推出的FOTRIC 246M 微观检测热像仪测试平台，专为微观检测而生，精准获取芯片的微观数据：精选全球尖端硬件研发专用测试台配备50μm 和 100μm 可选镜头支持线温分布图、直方图和三维图显示触发条件后自动记录热像数据批量处理热像文件，生成热像报告…
